X射線衍射儀的使用注意事項

更新時間：2020-08-03

點擊次數：1236

　　X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無汙染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。

　　X射線衍射儀(yi) (XRD)是通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nei) 部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。

　　X射線衍射儀(yi) 使用注意事項：

　　(1)固體(ti) 樣品表麵>10×10mm，厚度在5μm以上，表麵必須平整，可以用幾塊粘貼一起。

　　(2)對於(yu) 片狀、圓拄狀樣品會(hui) 存在嚴(yan) 重的擇優(you) 取向，衍射強度異常，需提供測試方向。

　　(3)對於(yu) 測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變)，測量殘餘(yu) 奧氏體(ti) ，要求製備成金相樣品，並進行普通拋光或電解拋光，消除表麵應變層。

　　(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大於(yu) 5g。

　　構造：

　　X射線衍射儀(yi) 的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為(wei) 衍射儀(yi) 的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。

　　(1) 高穩定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控製X射線源的強度。

　　(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構係統　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體(ti) 塊。

　　(3) 射線檢測器　檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀(yi) 器測量記錄係統或計算機處理係統可以得到多晶衍射圖譜數據。

　　(4) 衍射圖的處理分析係統　現代衍射儀(yi) 都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機係統, 它們(men) 的特點是自動化和智能化。